电针对脑缺血再灌注大鼠血脑屏障保护机制研究
【摘要】 目的探讨电针人中、百会对脑缺血再灌注大鼠BBB损伤的作用机理,为针刺治疗脑卒中提供科学依据。方法选用健康雄性SD大鼠,随机分为正常对照组、模型组和电针组,采用Longa线栓改良法建立大鼠脑缺血再灌注(MCAO)模型,电针组在造模成功后电针刺激人中、百会30min。采用神经功能缺损评分、CV染色法测定脑水肿肿胀率、免疫组织化学法与Westernblot方法检测MCAO大鼠脑组织中ZO-1表达及以透射电镜观察大鼠右侧脑组织纹状体组织超微结构的变化。结果随着缺血再灌注时间的延长,大鼠神经功能缺损及BBB损伤程度均随再灌注时间延长而逐渐加重,而电针组的大鼠神经功能缺损程度明显低于模型组;模型组大鼠在缺血再灌注6h缺血侧脑半球开始肿胀,并于72h达到高峰,电针组大鼠在缺血再灌注24h、48h、72h与模型组比较,差异有显著性(P<0.05或P<0.01);随着缺血再灌注时间的延长,模型组ZO-1蛋白表达显著降低,显著低于电针组,在缺血再灌注24h、48h和72h经统计学处理,有显著性差异(