X射线荧光光谱法测定高盐背景地质样品中的19元素
【摘要】 采用粉末压片-X射线荧光光谱法直接测定高盐背景地质类样品的主次量元素（Na2O、MgO、Al2O3、SiO2、P、K2O、CaO、Ti、Mn、TFe2O3、Cu、Cr、Ba、Nb、Zr、Y、Sr、Pb、Zn），选取国家一级标准物质和人工混配标样建立满足高盐背景地质类样品的分析工作曲线，选取最佳的仪器工作条件和各元素的分析参数，保持标准样品与被分析样品的基体一致性，合理选择分析元素曲线含量梯度，采用经验系数法和康谱顿散射线内标法进行基体校正。
