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一种优化芯片测试时间的方法

【摘要】为了减少芯片测试时间，降低芯片测试成本，介绍一种基于智能卡芯片的测试时间优化的方法。通过分析大生产的测试数据，对测试流程、测试程序以及测试向量进行优化，在保证质量的前提下，对测试项进行优化，提高测试效率，测试时间减少19.623%，从而有效降低成本，提高生产能力。