邻近铀微粒的二次离子质谱测量干扰研究
【摘要】 二次离子质谱(SIMS)测定铀微粒同位素比时，邻近微粒间可能产生干扰%在IMS-6f型SIMS上开展U350和U0002铀微粒在不同间距、不同测量顺序下铀同位素比测量研究，结果表明，微粒间距超过22#m(U350)和35#m(U0002)时,微粒的234u/238U、235U/238U、236U/238U测定结果与标称值相符;相同间距时，丰度低的微粒比丰度高的微粒受到的干扰严重，安全距离也更大;同一距离下，后测量的微粒比先测量的微粒受到的干扰严重，形貌疏松、尺寸小的微粒比密实、尺寸大的微粒受到的干扰严重%由已知两种丰度微粒计算得出的线性组合系数K4(234U/238U)、K5(235U/238U)和O(236U/238U)是否相近可以作为可疑混合微粒的判断准则%采用微操作进行单微粒剥离是消除相邻微粒干扰的有效方法%该工作为SIMS分析过程中有邻近微粒干扰时，发现、处理和排除可疑混合微粒数据，准确测量铀微粒同位素提供了参考%
