根据DTI成像技术对脑周围神经纤维的重建来选择侧脑室穿刺的最佳深度与角度
【摘要】 目的利用弥散张量成像（DTI）技术对脑神经纤维束重建，以此确定不同位置行侧脑室穿刺时的最佳角度与深度。同时为侧脑室穿刺提供一个最佳适宜的并可供选择的部位。方法选取120例成年人脑部扫描标本，其中90例标本来自CT扫描，另外30例来自DTI成像。在冠状面，矢状面和水平面进行测量，找出在侧脑室穿刺手术中最佳的穿刺角度与穿刺深度，同时对与侧脑室有关的位置关系和大小还有大脑两半球之间的不同与否进行了测量比对。结果大脑左右两半球差异无统计学意义（P>0.05）。侧脑室上缘与下缘的垂直距离是22.2±0.5mm，侧脑室长度为124.1±2.1mm。在额叶穿刺入路中，穿刺深度和角度分别是105.2mm至109.4mm和71.6±2.7°。在枕叶穿刺入路中，穿刺的深度和角度分别是90.7mm至111.4mm和15.3±1.8°。以上两种方法是传统穿刺入路途径利用CT和DTI技术所测量的结果。在顶叶穿刺入路中，穿刺的深度和角度分别为124.4mm至130.2mm和56.6±2.0度，此方法是根据DTI重建技术第一次
